English
- إرجاع مجاني بسهولة
- أفضل عروض
New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices (Micro and Nano Technologies)
قبل:
861.00 جنيه
الآن:
796.00 جنيه يشمل ضريبة القيمة المضافة
وفّرت:
65.00 جنيهخصم 7٪
باقي 2 وحدات في المخزون
احصل عليه خلال 3 فبراير
إدفع 6 اقساط شهرية بقيمة ١٦٠٫٠٠ جنيه.
1
الميزات الأساسية
- Original Copies - From Publishers
المواصفات
| الناشر | Elsevier |
| رقم الكتاب المعياري الدولي 13 | 9780323241434 |
| رقم الكتاب المعياري الدولي 10 | 323241433 |
| الكاتب | Zeev Zalevsky, Pavel Livshits, Eran Gur |
| اللغة | English |
| رقم الطبعة | 1 |
| تاريخ النشر | 2014 |
New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices (Micro and Nano Technologies)
في عربة التسوق 
مجموع العربة 796.00 جنيه
