English
- استرجاع مجاني وسهل
- أفضل العروض
الميزات الأساسية
- Original Copies - From Publishers
المواصفات
| الناشر | Elsevier |
| رقم الكتاب المعياري الدولي 13 | 9780323241434 |
| رقم الكتاب المعياري الدولي 10 | 323241433 |
| اللغة | English |
| الكاتب | Zeev Zalevsky, Pavel Livshits, Eran Gur |
| رقم الطبعة | 1 |
| تاريخ النشر | 2014 |
New Approaches to Image Processing based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices (Micro and Nano Technologies)
تمت الإضافة لعربة التسوق
مجموع السلة 0.00 ر.س.
