English
- استرجاع مجاني وسهل
- أفضل العروض
Scanning Electron Microscopy And X-Ray Microanalysis hardcover english
الآن:
315.00 د.إ.شامل ضريبة القيمة المضافة
توصيل مجاني
باقي 1 وحدات في المخزونتوصيل مجانيباقي 1 وحدات في المخزون
احصل عليه غدًا
احصل على د.إ. 15.75 رصيد مسترجع باستخدام بطاقة بنك المشرق نون الائتمانية. اشترك الآن. قدّم الحين
ادفع على 4 دفعات بدون فوائد بقيمة ٧٨٫٧٥ د.إ.اعرف المزيد
قسمها على 4 دفعات ب ٧٨٫٧٥ د.إ. بدون فوائد أو رسوم تأخير.اعرف المزيد
1
توصيل مجاني لنقطة نون ومراكز الاستلام
معرفة المزيد
إرجاع سهل لكل المنتجات في هذا العرض.
المنتج كما في الوصف
70%
شريك لنون منذ
4+ سنينالمواصفات
| الناشر | Springer Science+Business Media |
| رقم الكتاب المعياري الدولي 13 | 9780306472923 |
| رقم الكتاب المعياري الدولي 10 | 0306472929 |
| اللغة | الإنجليزية |
| وصف الكتاب | <p>This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens. In addition techniques for the elimination of charging in non-conducting specimens are detailed.</p> |
| رقم الطبعة | 3rd Corrected ed. 2003. Corr. 2nd printing 2007 |
Scanning Electron Microscopy And X-Ray Microanalysis hardcover english
تمت الإضافة لعربة التسوق
مجموع السلة 315.00 د.إ.
