English
- استرجاع مجاني وسهل
- أفضل العروض
User's Guide to Ellipsometry Paperback English by Harland G Tompkins - 2006
الآن:
74.00 د.إ.شامل ضريبة القيمة المضافة
توصيل مجاني
احصل عليه خلال 7 - 11 ديسمبر
احصل على 5% رصيد مسترجع باستخدام بطاقة بنك المشرق نون الائتمانية. اشترك الآن. قدّم الحين
1
توصيل مجاني لنقطة نون ومراكز الاستلام
معرفة المزيد
إرجاع سهل لكل المنتجات في هذا العرض.
المنتج كما في الوصف
70%
شريك لنون منذ
7+ سنينالمواصفات
| الناشر | Dover Publications |
| رقم الكتاب المعياري الدولي 13 | 9780486450285 |
| رقم الكتاب المعياري الدولي 10 | 0486450287 |
| اللغة | الإنجليزية |
| وصف الكتاب | This text on optics for graduate students explains how to determine material properties and parameters for inaccessible substrates and unknown films as well as how to measure extremely thin films. Its 14 case studies illustrate concepts and reinforce applications of ellipsometry particularly in relation to the semiconductor industry and to studies involving corrosion and oxide growth.A User Guide to Ellipsometry will enable readers to move beyond limited turn-key applications of ellipsometers. In addition to its comprehensive discussions of the measurement of film thickness and optical constants in film, it also considers the trajectories of the ellipsometric parameters Del and Psi and how changes in materials affect parameters. This volume also addresses the use of polysilicon, a material commonly employed in the microelectronics industry, and the effects of substrate roughness. Three appendices provide helpful references. |
| تاريخ النشر | 2006 |
User's Guide to Ellipsometry Paperback English by Harland G Tompkins - 2006
تمت الإضافة لعربة التسوق
مجموع السلة 74.00 د.إ.
