English
  • استرجاع مجاني وسهل
  • أفضل العروض

X-Ray Fluorescence Spectrometry hardcover english - 18 June 1999

الآن:
830.00 د.إ.‏شامل ضريبة القيمة المضافة
توصيل مجاني
noon-marketplace
احصل عليه خلال 14 يناير
اطلب في غضون 3 ساعة 32 دقيقة
VIP ENBD Credit Card

emi
خطط الدفع الشهرية تبدأ من د.إ.‏70عرض المزيد من التفاصيل
VIP card

احصل على د.إ. 41.50 رصيد مسترجع باستخدام بطاقة بنك المشرق نون الائتمانية. اشترك الآن. قدّم الحين

ادفع على 4 دفعات بدون فوائد بقيمة ٢٠٧٫٥٠ د.إ.اعرف المزيد
قسمها على 4 دفعات ب ٢٠٧٫٥٠ د.إ. بدون فوائد أو رسوم تأخير.اعرف المزيد
التوصيل 
بواسطة نوون
التوصيل بواسطة نوون
البائع ذو
 تقييم عالي
البائع ذو تقييم عالي
الدفع 
عند الاستلام
الدفع عند الاستلام
عملية 
تحويل آمنة
عملية تحويل آمنة
1
1 تمت الإضافة لعربة التسوق
أضف للعربة
Noon Locker
توصيل مجاني لنقطة نون ومراكز الاستلام
معرفة المزيد
free_returns
إرجاع سهل لكل المنتجات في هذا العرض.
المنتج كما في الوصف
المنتج كما في الوصف
70%
شريك لنون منذ

شريك لنون منذ

7+ سنين
نظرة عامة
المواصفات
الناشرJohn Wiley And Sons Inc
رقم الكتاب المعياري الدولي 139780471299424
رقم الكتاب المعياري الدولي 100471299421
اللغةالإنجليزية
وصف الكتابX-ray fluorescence spectroscopy, one of the most powerful and flexible techniques available for the analysis and characterization of materials today, has gone through major changes during the past decade. Fully revised and expanded by 30 per cent, X-Ray Fluorescence Spectrometry, Second Edition incorporates the latest industrial and scientific trends in all areas. It updates all previous material and adds new chapters on such topics as the history of X-ray fluorescence spectroscopy, the design of X-ray spectrometers, state-of-the-art applications, and X-ray spectra. Ron Jenkins draws on his extensive experience in training and consulting industry professionals for this clear and concise treatment, covering first the basic aspects of X rays, then the methodology of X-ray fluorescence spectroscopy and available instrumentation. He offers a comparison between wavelength and energy dispersive spectrometers as well as step-by-step guidelines to X-ray spectrometric techniques for qualitative and quantitative analysis-from specimen preparation to real-world industrial application. Favored by the American Chemical Society and the International Centre for Diffraction Data, X-Ray Fluorescence Spectrometry, Second Edition is an ideal introduction for newcomers to the field and an invaluable reference for experienced spectroscopists-in chemical analysis, geology, metallurgy, and materials science. An up-to-date review of X-ray spectroscopic techniques. This proven guidebook for industry professionals is thoroughly updated and expanded to reflect advances in X-ray analysis over the last decade. X-Ray Fluorescence Spectrometry, Second Edition includes: The history of X-ray fluorescence spectrometry-new to this edition. A critical review of the most useful X-ray spectrometers. Techniques and procedures for quantitative and qualitative analysis. Modern applications and industrial trends. X-ray spectra-new to this edition.
المراجعة التحريرية...much new material... For those wishing to get to grips with X--ray techniques for the first time there is no better introduction. (Talanta, Vol 52, 2000) "I have no doubt that this text would prove useful to its target readership" (Contemporary Physics, Vol.42, No.4, 2001)
عن المؤلفRON JENKINS teaches at the Inter--national Centre for Diffraction Data.
رقم الطبعة2
تاريخ النشر18 June 1999
عدد الصفحات232

X-Ray Fluorescence Spectrometry hardcover english - 18 June 1999

تمت الإضافة لعربة التسوقatc
مجموع السلة 830.00 د.إ.‏
Loading